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簡單介紹：
日本sentec三維立體幾何測量系統ODC2500 ODC2600 odc1200,遮光の原理によってターゲットの形狀測定やエッジの位置測定をします。様々な測定プログラムの選択で得られたデータは、アナログ及びデジタル?インターフェースによって出力されます
詳情介紹：
日本sentec三維立體幾何測量系統ODC2500 ODC2600
ジオメトリック寸法測定システム | ||
ODC2500 | ||
 遮光の原理によってターゲットの形狀測定やエッジの位置測定をします。様々な測定プログラムの選択で得られたデータは、アナログ及びデジタル?インターフェースによって出力されます。 | ||
ODC2600 | ||
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optoCONTROLは寸法測定のため高精度CCDを內蔵した測定裝置です。高速応答性、**した精度とすばらしい分解能は、生産ラインにおいて移動する製品の検査において新しい水準と価値を明確にします。optoCONTROL測定システムはターゲットの寸法を遮光によるエッジの位置で測ることが出來ます。様々なプログラムを選択可能で、デジタルインターフェースとアナログ出力を使用することが出來ます。 ODC1200 | ||
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高速でワークの直徑、エッジ、すき間等を測定可能